本课程一共分成集成电路测试原理和集成电路测试设备二个部分。根据现代集成电路测试技术发展和专业测试的需求课程中主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；设备部分的重点放在介绍数字/模拟/数模混合信号等三种类型集成电路测试系统合集成电路测试验证系统，同时关注以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和集成电路测试系统得发展，课中分别介绍了测试系统计量和自动分选机及探针测试台两种机种。